支持ウエハにより半導体ウエハを常に保持し、任意のタイミングで半導体ウエハをはく離・回収できます。特に、半導体ウエハ表面加工工程があるプロセスに推奨します。
品番 | NWS-TS322F |
厚さ [μm] | 148 |
熱はく離層粘着力(常態)
[N/20mm](対シリコン) | 1.7 |
熱はく離層粘着力(加熱後)
[N/20mm](対シリコン) | 0.2以下 |
感圧粘着層粘着力
[N/20mm](対シリコン) | 1.5 |
[補足]
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